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天体高分辨率软X射线光谱的实验测量标定

摘要:目前利用实验装置产生的原子数据来分析天体X射线观测光谱是一个全新的研究方法,在解决天文观测难题方面取得了很大的进展。为测量高电荷铁离子的高分辨率软X射线光谱,在国家天文台EBIS-A平台上设计并搭建了一个超高真空平场光谱仪。该谱仪在单缝模式下,使用1200槽/mm变间距的衍射光栅,其测量波长范围为11.5-19.8nm。针对谱仪的测量结果,首先对可能测量到的辐射进行理论的预测。根据电子束离子阱的工作原理,基于Chianti数据库对Heidelberg-EBIT极紫外光谱数据(11.5-14.5nm波段)进行分析,首先建立线性回归模型来校准由实验系统引起的线强度峰值位置的偏移,然后通过碰撞辐射模型模拟的不同离化态铁离子的软X射线光谱确定了实验测量中Fe VIII、Fe XIX-XXIII的线辐射,并较好的呈现观测谱。此外,在13.2925±0.10178nm处发现了相对Fe XXIII跃迁线强度较弱的Fe XIX和Fe XX的混合线,而观测到的光谱没有分辨出这些弱线。因此,接下来的实验测量可以参考这一预测结果来检验谱仪的性能。

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[V1] 2020-11-12 10:10:33 ChinaXiv:202011.00018V1 下载全文
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