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  • 1. ChinaXiv:202306.00277
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    A flexible and robust soft-error testing system for microelectronic devices and integrated circuits

    分类: 核科学技术 >> 核探测技术与核电子学 提交时间: 2023-06-18 合作期刊: 《Nuclear Science and Techniques》

    WANG Xiao-Hui TONG Teng SU Hong LIU Jie ZHANG Zhan-Gang GU Song LIU Tian-Qi KONG Jie ZHAO Xing-Wen YANG Zhen-Lei

    摘要:Single event effects (SEEs) induced by radiations become a significant reliability challenge for

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     点击量 530  下载量 119  评论 0
  • 2. ChinaXiv:202306.00235
    下载全文

    Azimuthal dependence of single-event and multiple-bit upsets in SRAM devices with anisotropic

    分类: 核科学技术 >> 核探测技术与核电子学 提交时间: 2023-06-18 合作期刊: 《Nuclear Science and Techniques》

    ZHANG Zhan-Gang LIU Jie HOU Ming-Dong SUN You-Mei SU Hong GU Song GENG Chao YAO Hui-Jun LUO Jie DUAN Jing-Lai MO Dan XI Kai EN Yun-Fei

    摘要:Experimental evidence is presented showing obvious azimuthal dependence of single event upsets (SEU

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     点击量 795  下载量 150  评论 0
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