空间单粒子锁定防护的脉冲激光试验研究

Abstract: 脉冲激光作为一种简单、经济、安全可靠、无辐射损伤的试验手段，具有机时灵活、能量连续可调、对待检测器件无损伤、操作便捷等优点，在模拟空间单粒子效应方面有了广阔应用前景，也是最近十几年除了重离子加速器以外国内外采用的主流手段，它具有敏感区域准确定位等优点，已逐步发展为重离子单粒子效应试验的有利补充，在电子器件单粒子效应加固设计性能评估中得到了广泛应用。本文旨在研究图像传感器的单粒子锁定效应，并通过脉冲激光实验验证其防护策略的有效性。试验研究以CMOS APS图像传感器为研究对象，采用聚焦脉冲激光束模拟单粒子事件，通过调整脉冲激光的能量和照射位置，模拟不同能量和入射角度的单粒子事件，观察并记录图像传感器的响应情况，对器件的单粒子锁定效应进行了深入研究，并分析防护方法的实际效果。结果表明，脉冲激光实验为验证图像传感器的单粒子锁定效应防护策略提供了有效的手段。通过对比实验，可以清晰地看到防护策略在抵抗单粒子锁定效应方面的优劣，从而为实际应用中的防护设计提供有力支持。